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549.
| Ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona
/ Kaupelis, R. R. ; Varanauskas, P. A. ; Kaunasskij politechničeskij institut im. A. Snečkusa
[S.l.]: [s.n.], 1979
Signatura: SSSRPAT678283
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550.
| Ekzamenator
/ Anikst, D. A. ; L'vov, V. G. ; Kuz'min, M. V. ; CNIIGAiK
[S.l.]: [s.n.], 1980
Signatura: SSSRPAT718703
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551.
| Einrichtung zur photogrammetrischen Auswertung von Messbildpaaren eines Objektes
/ Lauenroth, Gerhard ; Papenkordt, Lutz
[S.l.]: [s.n.], 1979
Signatura: DDPAT127308
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552.
| Einrichtung zur Längenmessung von Fäden oder Fasern
/ Lejeune, Hans ; Chemiefaser Lenzing Aktiengesellschaft
[S.l.]: [s.n.], 1983
Signatura: (AT)PAT371248
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553.
| Einrichtung zur Herstellung von Stereo-Orthophotos
/ Marckwardt, Werner ; VEB Carl Zeiss Jena
[S.l.]: [s.n.], 1979
Signatura: ŠVÝCPAT613517
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554.
| Einrichtung zur Ermittlung der Lage eines Lichtstrahles
/ Doyle, Keith Gilbert ; ZED Instruments limited Twickenham
[S.l.]: [s.n.], 1983
Signatura: (AT)PAT371598
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555.
| Einrichtung zur automatischen Abtastung und Auswertung homologer Ausschnitte von Messbildpaaren eines Objektes
/ Fuchs, Peter ; Lauenroth, Gerhard
[S.l.]: [s.n.], 1979
Signatura: DDPAT125164
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556.
| Einrichtung zum optischen Erkennen der Lage. Masshaltigkeit von Werkstücken
/ Blanc, J. P. ; Heizmann, F. ; Pidoux, R. ; Robert Bosch
[S.l.]: [s.n.], 1986
Signatura: ŠVÝCPAT655792
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557.
| Dwuszczelinowa tarcza dyfrakcyjna do wyznaczania połozenia punktow wzgledem linii prostej
/ Gocał, Ewa ; Kozak, Stefan ; Politechnika Krakowska
[S.l.]: [s.n.], 1979
Signatura: PLRPAT104254
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558.
| Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona
/ Kaupelis, R. R. ; Varanauskas, P. A. ; Naumavičjus, R. G. ; Ragul'skis, K. M. ; et al
[S.l.]: [s.n.], 1980
Signatura: SSSRPAT720302
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