Hlavní stránka > Knihovna VÚGTK > Patentová literatura > Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona |
Signatura: SSSRPAT720302
Publikováno: [S.l.]: [s.n.], 1980
Rozsah: 4 sl., obr.
Klíčová slova: patenty
Typ publikace: patenty
Poznámky: 1 list. G 01 C 25/00., 1.3.1978, 5.3.1980
Záznam se nachází v těchto sbírkách:
Knihovna VÚGTK > Patentová literatura
Monografie