Hlavní stránka > Knihovna VÚGTK > Patentová literatura > Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona > BibTeX |
@article{7497, author = "Kaupelis, R. R. and Varanauskas, P. A. and Naumavičjus, R. G. and Ragul'skis, K. M. and Kaunasskij politechničeskij institut", title = "Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona ", year = "1980", note = "1 list. G 01 C 25/00., 1.3.1978, 5.3.1980", }