Hlavní stránka > Knihovna VÚGTK > Patentová literatura > Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona
 
Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona
Kaupelis, R. R. ; Varanauskas, P. A. ; Naumavičjus, R. G. ; Ragul'skis, K. M. ; Kaunasskij politechničeskij institut

Signatura: SSSRPAT720302
Publikováno: [S.l.]: [s.n.], 1980


Rozsah: 4 sl., obr.
Klíčová slova: patenty
Typ publikace: patenty
Poznámky: 1 list. G 01 C 25/00., 1.3.1978, 5.3.1980

Záznam se nachází v těchto sbírkách:
Knihovna VÚGTK > Patentová literatura
Monografie

 Záznam vytvořen 2014-01-11, poslední editace 2018-11-27



Hodnotit tento dokument:

Rate this document:
1
2
3
4
5
 
(Ještě nerecenzováno)
Zeměměřická knihovna VÚGTK :: Hledat :: Katalogizovat :: Vaše konto :: Nápověda
Provozováno v systému Invenio v1.1.4
Spravuje knihovna@vugtk.cz
Tato stránka je dostupná v následujících jazycích:
Česky  English