Hlavní stránka > Knihovna VÚGTK > Patentová literatura > Dvuchosnyj ekzamenator dlja issledovanija charakteristik izmeritelej naklona |
Barcode | Knihovna | Sbírka | Location | Popis | Výpůjční doba | Stav | Termín pro vrácení | Možnost(i) |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
198000682 | VÚGTK | - | SSSR PAT 720 302 | - | 4 weeks | - |